粒度分析儀有時稱為準彈性光散射法

粒度分析儀（PSA），掃描電子顯微鏡（SEM）和UV-可見分光光度計表征合成的產物。 XRD圖譜證實了合成樣品的四方結構。使用Debye-Scherrer公式從X射線譜展寬確定合成的納米顆粒的平均微晶尺寸。隨著煅燒溫度從300℃升高到800℃，微晶尺寸在8到33nm之間變化通過溶膠凝膠法合成未摻雜和摻雜銀的TiO 2納米顆粒（Ti 1-x Ag x O 2，其中x = 0.00-0.10）。通過X射線衍射（XRD）。

 

動態光散射法(DLS)，粒度分析儀有時稱為準彈性光散射法（QELS），是一種成熟的非侵入技術，可測量亞微細顆粒范圍內的分子與顆粒的粒度及粒度分布，使用新技術，粒度可小于1nm。 動態光散射法的典型應用包括已分散或溶于液體的顆粒、乳劑或分子表征。 懸浮在溶液中的顆粒的布朗運動，造成散射光光強的波動。 分析光強的波動得到顆粒的布朗運動速度，再通過斯托克斯-愛因斯坦方程得到顆粒的粒度。與未摻雜的TiO 2相比，摻入3至5％Ag +代替Ti 4+引起納米晶體尺寸的減小。

 

粒度分析儀SEM顯微照片顯示顆粒的團聚球形形態。 SEM，PSA和XRD測量顯示粉末的顆粒尺寸為納米級。所有系統均可與 MPT-2 自動滴定儀連接使用，實現趨勢測量和樣品制備的自動化。光學吸收測量表明在銀摻雜時吸收帶邊緣發生紅移。通過UV-Vis光譜儀測量的未摻雜和Ag摻雜的TiO 2納米顆粒的直接允許帶隙在500℃下分別為3.00和2.80eV。